Title: Static electrical characterization and low frequency noise of a-InHfZnO thin film transistors
So Jeong Park; Dae-Young Jeon; Seung-Eon Ahn; Sanghun Jeon; Laurent Montès; Gyu-Tae Kim; Gérard Ghibaudo
*S. J. Park: parkso@minatec.inpg.fr
Accepted for the publication in Thin Solid Films
2013/09/10
- 글로벌 프론티어와 화연 과제 사사
a-IHZO TFT 소자에서의 I-V/C-V 측정, 저온 측정, 노이즈 측정, model을 이용한 numerical simulation 등 전반적인 특성 분석을 정리한 논문입니다. 그레노블에서 실험한 결과로 처음 쓴 논문인데 시간이 좀 많이 걸렸지만 논문 준비하면서 측정,분석법에 대해서 많이 배우고 a-IHZO 물질의 전기적인 전도 현상에 대해서도 공부할 수 있는 기회였습니다.
소자 주시고 관련해서 많이 알려주신 승언오빠, 그레노블에서 열심히 지도해 주신 로랑 교수님과 지보도 박사님, 그리고 아낌없이 지원해 주시는 우리 교수님께 감사드립니다.
박소정 올림. |
