Dae-Young Jeon; So Jeong Park; Mireille Mouis; Sylvain Barraud; Gyu-Tae Kim*; Gérard Ghibaudo*
Solid-State Electronics 89(2013) 139–141, " New method for the extraction of bulk channel mobility and flat-band voltage in junctionless transistors ".
E-mail addresses: gtkim@korea.ac.kr (G.-T. Kim), ghibaudo@minatec.inpg.fr (G. Ghibaudo).
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0038110113002761# (논문저널페이지)
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올해 초에 정리해 보았던 내용인데, 많은 시간이 걸려 얼마전에 Solid-State Electronics 에 출간되었습니다.
Junctionless transistor (JLTs) 에서 bulk channel mobility 와 flat-band voltage 를 쉽게 추출할 수 있는 간단하고, 새로운 방법에 대한 내용의 논문입니다.
Analytical modeling 관련 논문들을 공부하다가,
Drain current 측정데이터 만으로 쉽게 JLTs neutral channel의 mobility를 추출할 수 있는 방법이 없을까? 고민해 보다가 정리해 본 내용입니다.
Surface conduction과 bulk conduction 에 대한 주제는, 우리 연구실에서 주로 다루고 있는 Nano-devices와 연결지어서
앞으로도 계속 고민해보고 공부해 볼 계획입니다.
많은 도움을 주신 우리 교수님과 Ghibaudo, Mouis 박사님들께 진심으로 감사드립니다.
- 전대영 올림. |
