Dae-Young Jeon*; So Jeong Park; Mireille Mouis; Sylvain Barraud; Gyu-Tae Kim; Gérard Ghibaudo,
Solid-State Electronics 80(2013) 135–141, " Low-Temperature Electrical Characterization of Junctionless Transistors ".
*D.-Y. Jeon: jeond@minatec.inpg.fr.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0038110112003425 (논문저널페이지)
http://ac.els-cdn.com/S0038110112003425/1-s2.0-S0038110112003425-main.pdf?_tid=b2f657b8-846a-11e2-9e68-00000aab0f6b&acdnat=1362360637_0fdccd3b63e7557a778707995c85c29e (논문)
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프랑스 그르노블에 있는 IMEP-LAHC 연구소에서 실험하고 공부했던 내용이 첫번째로 Solid State Electronics에 accept 되었습니다.
SOI wafer 기반의 Si 소자에 (Junctionless Transistors) 대해 공부해 볼 수 있었던 소중한 경험이었습니다.
공동학위 기회를 주신 교수님께 감사드리고, 실험/분석 관련해서 많은 discussion을 해주셨던 Ghibaudo, Mireille 박사님께 감사드립니다.
- 전대영 올림. |
