Min-Kyu Joo, Mireille Mouis, Dae-Young Jeon, Gyu-Tae Kim, Un Jeong Kim and Gérard Ghibaudo
"Static and low frequency noise characterization of N-type random network of carbon nanotubes thin film transistors"
Accepted for the publication in Journal of Applied Physics
2013/10/01
URL: http://link.aip.org/link/?JAP/114/154503&aemail=author
DOI: 10.1063/1.4825221
- 글로벌 프론티어, 화학연구소 과제 사사 -
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Single walled CNTs의 전기적 특성을 평가한 논문입니다. 체계적인 평가를 위해서, CV, IV, 노이즈 측정, Peroclation Simulation, Capacitance 모델 제안이 이루어졌고, 이 논문을 완성하기까지 약 5년의 시간이 걸린거 같습니다. 오랜 시간, 실험 시작부터 논문 제출까지 끝까지 믿고 기다려주신 김규태 교수님, 삼성에서 소자를 공급해주시고 기다려주신 김언정 박사님, 그리고 전기 분석이 막혔을 때 연구 방향 제시와 토론을 열정적으로 해주신 프랑스 지도교수님인 Mireille 박사님과 Gerard박사님께 진심으로 감사드립니다. 마지막으로 프랑스에 있으면서 CV 측정 결과와, capacitance 분석 아이디어를 같이 의논해 주시고 격려해 줬던 대영형과 소정이에게도 고마운 마음을 전하고 싶습니다.
2008년 연구실에 입학하고 얼마 안되어 삼성 TND과제를 수행하고 얼마 안되어 간단한 아이디어로부터 시작한 노이즈 측정이었습니다. 중간에 분석이 너무 힘들어 중간에 포기 할 까도 생각했던 주제였습니다. 혹시나 하는 마음으로 프랑스에 가져간 CNT 기본 IV 측정으로 부터 다시 시작된 분석은, 오랜 심도있는 토론과, 다양한 실험으로 부터 얻은 일관성 있는 결과로부터 완성될 수 있었던거 같습니다. 많은 실험과 아이디어속에서, 차근차근 정리를 데이터를 정리하고 기존의 논문의 부족한 점을 찾고, 새로운 해석을 제시 하는 법을 배웠던 좋은 기회였던거 같습니다.
끝으로, 연구실에서 많은 토론을 함께 해주시고 격려해준 교수님과 선/후배님들에게 다시 한 번 감사의 말씀을 남깁니다.
나노소자 연구실 화이팅 입니다!
- 주민규 드림 - |
