Junhong Na, Junghwan Huh, Sung Chan Park, DaeIl Kim, Dong Wook Kim, Jae Woo Lee, In-Sung Hwang, Jong-Heun Lee, Jeong Sook Ha, Gyu Tae Kim, "Degradation pattern of SnO(2) nanowire field effect transistors". Nanotechnology 2010, 21 (48). >> Published 2010-11-04
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Junhong Na, Junghwan Huh, Sung Chan Park, DaeIl Kim, Dong Wook Kim, Jae Woo Lee, In-Sung Hwang, Jong-Heun Lee, Jeong Sook Ha, Gyu Tae Kim, "Degradation Pattern of SnO2 Nanowire Field Effect Transistors", Nanotechnology 2010, 21 (48), 485201. >> Published 2010-11-04
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2008년 10월경부터 nanowire passivation 실험을 시작하여, 2010년 10월에 유명저널 Nanotechnology에 accepted되기까지, 2년이라는 짧지않은 시간이 걸렸습니다. 실험은 비교적 일찍 마무리가 되었지만, 그동안 결과로써 마무리를 짓지못하여 많은 안타까움이 있었는데, 지금 뒤돌아서 보면 모든것이 좋은 경험이었다는 생각이 듭니다. 물론 논문이 Nanotechnology에 accept되어서 그러한 생각들이 더욱 더 빛을 발하기도 합니다만, 계속적으로 시도하고 다시 생각하고 하는 그러한 과정들은 정말 고귀했다는 생각에는 변함이 없을듯합니다.
나노선 소자의 열화과정을 보호층의 유무, 종류에대해 전기적으로 비교하였고, 그것을 더욱 더 명확하게 표현해내기위해, 교수님께서 고안하신 직렬연결된 저항이 있는 FET 모델을 사용하여 직렬저항-전자이동도 그래프를 얻어내어 설명할 수 있었습니다.
처음으로 낸 논문이었기에, 교수님과 연구실분들이 많은 도움을 주셨습니다. 정말 감사의 말씀 드립니다. 이제 시작이라는 마음으로 차근차근 공부하고 생각하고 실험하고 연구하여, 앞으로도 좋은 결과를 많이 내었으면 좋겠습니다. 다같이 열심히하여 잘되었으면 좋겠습니다.
PS 아직 논문이 게재되지 않았습니다. 게재되는대로, 파일을 첨부하고 페이지수 등을 넣도록 하겠습니다.
[수정] 드디어 기다리던 논문이 많은 분들의 도움으로 발간되었습니다. (파일첨부완료)
Received 30 July 2010, in final form 16 September 2010, Published 4 November 2010 |
