Title: Low-frequency noise behavior of junctionless transistors compared to inversion-mode transistors
Dae-Young Jeon*; So Jeong Park; Mireille Mouis; Sylvain Barraud; Gyu-Tae Kim; Gérard Ghibaudo
*D.-Y. Jeon: jeond@minatec.inpg.fr, 12/10/2012 accepted for Solid State Electronics
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S003811011200367X (논문저널페이지)
프랑스 IMEP-LAHC 연구소에서 공동학위 과정동안 진행했던 연구결과가 Solid State Electronics에 accept 되었습니다.
Bulk conduction 특성이 확연히 관찰이 되는 Planar type Junctionless transistor에서의 1/f noise behavior가
mobility fluctuation 모델이 아닌 carrier number fluctuation 모델로 잘 설명된다는 내용이고, inversion-mode transistor에서의 결과와도 비교가 되었습니다.
실험/분석 관련 많은 discussion을 해 주셨던 Ghibaudo 박사님과 실험 할 수 있게 도와주신 Mireille 박사님
그리고 공동학위 기회를 만들어 주신 교수님께 진심으로 감사드립니다.
또한, 1/f noise 측정 장비 set-up 관련해서 많은 도움을 주신 J. A. Chroboczek 교수님과 그리스 학생 C. Theodorou,
예전에 우리 연구실 세미나에서 1/f noise 관련 내용을 재미있게 발표해준 도영이와 민규한테도 고마운 마음을 전합니다.
- 전대영 올림. | |
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