Hyunjin Ji, Jaewan Choi, Youngseung Cho, In-Sung Hwang, 3 Sun-Jung Kim, Jong-Heun Lee, Siegmar Roth, Gyu-Tae Kim, "Electron beam tuning of carrier concentrations in oxide nanowires". Journal of Applied Physics 2011, 110 (1), 013705. >> Published 2011-07-05
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Hyunjin Ji, Jaewan Choi, Youngseung Cho, In-Sung Hwang, Sun-Jung Kim, Jong-Heun Lee , Siegmar Roth and Gyu-Tae Kim*
"Electron Beam Tuning of Carrier Concentrations in Oxide Nanowires" --> 2011년 5월 8일 accept. 2011년 7월 5일 온라인 게재.
n-type 으로 ZnO, SnO2 나노선을, p-type 으로 CuO 나노선을 사용하여 각각의 경우에 전자빔 노광이 FET 전기적 특성이 미치는 영향을 살펴본
논문으로 표면에서의 oxygen 및 물분자의 흡탈착 역할에 대해서 살펴본 논문입니다.
처음 실험은 2008년도에 시작되었는데, 처음 논문을 쓰고 수정-제출을 반복하며 거의 3년이라는 시간이 지나간 것 같습니다.
상당히 오래 걸려서 많이 지치게 되기도 했지만, 그래도 그 시간동안 더 많이 생각해보고 좀더 다듬을 수 있었고
느리고 오래 걸려도 끝맺음을 짓는 것이 중요하다는 것에 대해서 많이 느끼게 해준 시간이었습니다.
함께 실험하고 도와준 모든 분들께 감사드립니다.
지현진
(추신) publish 가 되는대로 수정해서 다시 올리겠습니다. 일단은 accept decision letter 만 올립니다.
(추신 2)
온라인에 논문이 게재되었습니다. (첨부파일2)
정보는 아래와 같습니다.
http://jap.aip.org/resource/1/japiau/v110/i1/p013705_s1
J. Appl. Phys. 110, 013705 (2011); doi:10.1063/1.3596579 (6 pages)
Electron beam tuning of carrier concentrations in oxide nanowires
Hyunjin Ji1, Jaewan Choi1, Youngseung Cho2, In-Sung Hwang3, Sun-Jung Kim3, Jong-Heun Lee3, Siegmar Roth1, and Gyu-Tae Kim1
1School of Electrical Engineering, Korea University, Seoul 136-701, South Korea
2Department of Materials Science and Engineering, Korea University, Seoul 136-701, South Korea
3Samsung Electronics, San #16, Banwol-dong, Hwasung, Gyeonggi-do 445-701, South Korea
(Received 10 January 2011; accepted 2 May 2011; published online 5 July 2011)
--> 2011년 7월 6일 작성. |
