Sungkyu Lee1, Ho Won Lee1, InYeob Na2, Han Kyu Yoo1, Kyo Min Hwang1,
Hyun Jung Baek1, Gyu-Tae Kim2 ∗, and Young Kwan Kim1 ∗
1Department of Information Display, Hongik University, 121-791, Republic of Korea
2School of Electrical Engineering, Korea University, 136-713, Republic of Korea
홍대 김영관 교수님 연구실과의 두번째 공동연구 결과입니다.
이 논문은 열적 스트레스에 의한 OLED소자의 열화 분석을 주 내용으로 하고있습니다.
이 연구에서 기여한 부분은 두가지로, impedance와 C-V 측정입니다.
impedance 분석에서는 Cole-cole plot과 물성분석을 통한 mCP물질의 변화를 확인하였습니다.
Capacitance-voltage 곡선에서는 OLED의 배리어가 붕괴되어 전하축적이 감소되는경향성을 보며
소자의 열화됨을 파악하였습니다. |
